XRD는 X-Ray Diffrcation / X-Ray Diffactometer 표현이 될 것 같은데요.
저도 갑자기 헷갈리기 시작합니다.
둘 중에 뭐가 맞는 것일까요?
아마 둘 다 맞을 것 같습니다.
즉, X-Ray 회절을 이용하여 어떠한 물질의 구조를 알아낼 수 있습니다.
XRD 측정원리는 브래그 법칙으로 설명할 수 있습니다.
브래그 법칙은 빛의 회절, 반사에 관한 물리법칙입니다.
2dsinθ = nλ
d는 원자 평면 사이 간격
θ는 결정면과 입사된 X-선
λ는 빛의 파장
n은 정수로 표현이 됩니다.
브래그 법칙은
두 개 이상의 파동의 간섭 조건을 설명하는 것으로
두 개 이상의 파동 사이에 서로 위상 차이가
그 파동의 반 파장만큼 있을 때는 상쇄 간섭,
위상 차이가 파장의 정수배만큼 있을 때는
진폭이 두배가 되어 보강 간섭이 일어납니다.
XRD는 브래그 법칙의 원리를 이용한
실험장비라고 보시면 됩니다.
위 그림은 XRD의 간단한 장치 개략도입니다.
보통 측정방법은 3가지가 있습니다.
1. θ-2θ축 방법
일반적으로 가장 많이 사용되는 방법입니다.
X-ray가 고정되어 있는 상태에서 시료는 θ로,
검출기는 2θ 로 회전하면서 측정하는 방법입니다.
2. θ축 방법입니다.
보통 측정하는 사람들은
Rocking-Curve라고 말하곤 합니다.
검출기를 고정시켜놓고
시료를 회전하면서 측정하는 방법입니다.
3. 2θ 축 방법입니다.
Rocking-Curve 방법과는 반대입니다.
샘플을 고정시켜놓고
검출기를 회전하면서 측정하는 방법이기 때문입니다.
3가지 측정방법이 있긴 하지만
가장 일반적으로 많이 사용하는 방법은
θ-2θ축 방법입니다.
이 측정(θ-2θ)의 결과물은
다음 같은 패턴을 가지게 됩니다.
이 패턴을 가지고 다양한 분석을 하게 됩니다.
이 패턴을 가지고 여러 가지 정보를 얻을 수 있습니다.
JCPDS 데이터와 비교하여 샘플의 물질을 찾을 수 있습니다.
반면에 이미 샘플의 물질을 알고 있다면 데이터 비교도 가능합니다.
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